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Engineering
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微細加工を用いたイオンを捕集する実験方法表面イオン トラップ
JoVE Journal
Engineering
This content is Free Access.
JoVE Journal
Engineering
Experimental Methods for Trapping Ions Using Microfabricated Surface Ion Traps
Please note that all translations are automatically generated.
Click here for the English version.
微細加工を用いたイオンを捕集する実験方法表面イオン トラップ
DOI:
10.3791/56060-v
•
11:45 min
•
August 17, 2017
•
Seokjun Hong
,
Minjae Lee
,
Yeong-Dae Kwon
,
Dong-il “Dan” Cho
,
Taehyun Kim
1
ISRC/ASRI, Department of Electrical and Computer Engineering
,
Seoul National University
,
2
Quantum Tech. Lab
,
SK Telecom
Chapters
00:05
Title
01:07
Overview of the Experiment
02:59
Experiment Set Up: Electrical Connections
04:24
Experiment Set Up: Alignment of the 369.5 nm Laser and the Imaging System
06:59
Experiment Set Up: Alignment of the 399 nm and 935 nm Lasers and the Oven Test
09:16
Trapping Ions
10:40
Results: Trapping of
174
Yb+ Ions in a Microfabricated Ion-trap Chip
11:12
Conclusion
Summary
Automatic Translation
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português (Portuguese)
русский (Russian)
español (Spanish)
Türkçe (Turkish)
Automatic Translation
部屋の温度環境でイッテルビウム イオンをトラップの詳細な実験手順と同様に、表面のイオン トラップの微細加工方法を提案します。
Tags
Ion Trapping
Micro-fabricated Surface Ion Traps
Quantum Information Processing
Quantum Computing
Vacuum Chamber
Ytterbium Ions
Radio Frequency Electrodes
DC Voltages
Ultra-high Vacuum System
Oven
Diode Lasers
Imaging System
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