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Tutto-elettronico nanosecondo-risolto scansione microscopio a effetto tunnel
 
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Tutto-elettronico nanosecondo-risolto scansione microscopio a effetto tunnel: Agevolare le indagini di drogante singola carica dinamica

Article DOI: 10.3791/56861-v • 11:33 min • January 19th, 2018
January 19th, 2018 •
1,2, 1, 3,4,5, 1,2,6, 1, 2, 3,4, 1,2
1Department of Physics, University of Alberta, 2National Institute for Nanotechnology, National Research Council of Canada, Edmonton, 3Max Planck Institute for the Structure and Dynamics of Matter, 4Max Planck Institute for Solid State Research, 5Department of Physics and Astronomy, University of Manitoba, 6Joint Attosecond Science Laboratory, University of Ottawa

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Riepilogo
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Dimostriamo un metodo tutto-elettronico per osservare le dinamiche di nanosecondo-risolto carica degli atomi di drogante nel silicio con un microscopio a effetto tunnel.

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Ingegneria problema 131 tutto-elettronico risolta in tempo scansione microscopio a effetto tunnel scanning tunneling spectroscopy dinamiche di drogante legami pendenti silicio spettroscopia di pump-probe tutto-elettronico singolo atomo carica dinamica risolta nel tempo
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