This content is Free Access.
Capitoli
- 00:04Titolo
- 00:51Sample Fixation and Processing for Electron Microscopy
- 03:51Prepare Embedded Samples for Imaging
- 05:03Imaging in the SBF-SEM (Serial Block Face Scanning Electron Microscopy) and Data Processing
- 06:22Imaging in the FIB-SEM (Focused Ion Beam SEM)
- 07:49Results: SBF-SEM and FIB-SEM Data
- 08:46Conclusion
Här presenterar vi ett protokoll för att effektivt kombinera Serial block Face och fokuserad Jon beam scanning elektronmikroskopi för att rikta ett område av intresse. Detta möjliggör effektiv sökning, i tre dimensioner, och lokalisering av ovanliga händelser i ett stort synfält.
