背景散乱を最小限に抑えた高分子X線結晶学用オールインワンサンプルホルダー

適切な処理プロトコルと共に高分子X線結晶学のための新しいサンプルホルダーが提示される。このシステムは、結晶の成長、結晶浸漬、および結晶操作や取り付けを必要とせずに、周囲および低温の両方で回折データ収集を可能にします。