Rivista
/
Ingegneria
/
Overfladekortlægning af jordlignende Exoplaneter ved hjælp af enkeltpunktslyskurver
JoVE Journal
Ingegneria
È necessario avere un abbonamento a JoVE per visualizzare questo.  Accedi o inizia la tua prova gratuita.
JoVE Journal Ingegneria
Surface Mapping of Earth-like Exoplanets using Single Point Light Curves

Overfladekortlægning af jordlignende Exoplaneter ved hjælp af enkeltpunktslyskurver

DOI:
10.3791/60951-v

•

06:48 min

•

May 10, 2020

•

,
1Division of Geological and Planetary Sciences,California Institute of Technology

Capitoli

  • 00:05Introduction
  • 00:57Programming Setup and Multi-Wavelength Light Curve Visualization
  • 01:32Light Curve Surface Information Extraction
  • 03:11Planetary Surface Map Construction
  • 04:35Retrieved Map Uncertainty Estimation
  • 05:02Results: Representative Surface Mapping and Analysis
  • 06:11Conclusion

Summary

Traduzione automatica

Traduzione automatica

Protokollen udtrækker oplysninger fra lyskurver af exoplaneter og konstruerer deres overfladekort. Det bruger lys kurver af Jorden, der tjener som en proxy exoplanet, at demonstrere den tilgang.

Tags

Surface MappingExoplanetsSingle Point Light CurvesEarth-like ExoplanetsHabitabilityTwo-dimensional Surface MapsMulti-wavelength Light CurvesGeometryNormalized Light CurvesSingular Value DecompositionPrincipal ComponentsPower SpectraPeriodogram

Article

Embed

AGGIUNGI ALLA PLAYLIST

Usage Statistics

Video correlati

check_url/it/60951?article_type=v

Karakterisering af overflademodifikationer med hvidt lys Interferometry: aktuelle Ion Sputtering, laserablation, og Tribologi Eksperimenter
check_url/it/60951?article_type=v

Atomarkraftmikroskopi Red-Light Fotoreceptorer Brug PeakForce Kvantitativ nanomekaniske Ejendom Mapping
check_url/it/60951?article_type=v

Surface Enhanced Raman spektroskopi Detection af biomolekyler Brug EBL Færdige Nanostrukturerede Substrater
check_url/it/60951?article_type=v

Manglende Analyse af batterier Brug Synchrotronbestrålingscenter-baserede Hard røntgen Microtomography
check_url/it/60951?article_type=v

Måling af X-ray Beam Sammenhæng ad flere retninger Brug 2-D Checkerboard Phase rist
check_url/it/60951?article_type=v

Synligt lys induceret Reduktion af Graphene Oxide Brug plasmoniske Nanopartikel
check_url/it/60951?article_type=v

Målingen af ​​Usikker Surface Pressure Ved hjælp af en fjernbetjening mikrofon Probe
check_url/it/60951?article_type=v

Brug synkrotronstråling Microtomography at undersøge Multi-skala Tre-dimensionelle Mikroelektroniske pakker
check_url/it/60951?article_type=v

Spektroskopisk Boundary Layer Undersøgelse under ablative Material Testing i PlasmaTron
check_url/it/60951?article_type=v

Eksperimentelle metoder til fældefangst ioner ved hjælp af Microfabricated overflade Ion fælder

Read Article