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Flusso di lavoro di tomografia ad array per l'acquisizione mirata di informazioni sul volume utilizzando la microscopia elettronica a scansione
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Array Tomography Workflow for the Targeted Acquisition of Volume Information using Scanning Electron Microscopy
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Flusso di lavoro di tomografia ad array per l'acquisizione mirata di informazioni sul volume utilizzando la microscopia elettronica a scansione

DOI:
10.3791/61847-v

•

09:47 min

•

July 15, 2021

•

,
1Thermo Fisher, 2Universite de Lausanne

Capitoli

  • 00:04Introduction
  • 00:46Array Generation
  • 01:42Sample Sectioning
  • 02:23Array Sectioning and Transfer
  • 03:53Scanning Electron Microscopy (SEM)
  • 04:16Imaging Region Definition
  • 06:37Auto Function Configuration and Image Acquisition
  • 07:27Results: Representative Targeted Acquisition of Volume Information
  • 09:02Conclusion

Summary

Traduzione automatica

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Descriviamo la preparazione di nastri di sezioni seriali e la loro raccolta su un ampio supporto di trasferimento per l'uso come campioni di tomografia array, insieme a procedure di imaging automatizzate in un microscopio elettronico a scansione. Il protocollo consente lo screening, il recupero e l'imaging mirato di eventi locali rari e l'acquisizione di grandi volumi di dati.

Tags

Array TomographyScanning Electron MicroscopyElectron MicroscopyVolume InformationSerial SectionsData RecordingData AnalysisSample PreparationUltramicrotomeDiamond TrimmingWafer CleavingArray Tomography KnifeRibbon SectioningSample Transfer

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