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스캐닝 전자 현미경 을 사용하여 대량 정보의 표적 수집을위한 배열 단층 학워크
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Array Tomography Workflow for the Targeted Acquisition of Volume Information using Scanning Electron Microscopy
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스캐닝 전자 현미경 을 사용하여 대량 정보의 표적 수집을위한 배열 단층 학워크

DOI:
10.3791/61847-v

•

09:47 min

•

July 15, 2021

•

,
1Thermo Fisher, 2Universite de Lausanne

Capitoli

  • 00:04Introduction
  • 00:46Array Generation
  • 01:42Sample Sectioning
  • 02:23Array Sectioning and Transfer
  • 03:53Scanning Electron Microscopy (SEM)
  • 04:16Imaging Region Definition
  • 06:37Auto Function Configuration and Image Acquisition
  • 07:27Results: Representative Targeted Acquisition of Volume Information
  • 09:02Conclusion

Summary

Traduzione automatica

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우리는 스캐닝 전자 현미경의 자동화 된 이미징 절차와 함께 배열 단층 촬영 샘플로 사용하기 위해 대형 전송 지원에 직렬 섹션의 리본과 컬렉션의 준비를 설명합니다. 이 프로토콜을 통해 로컬, 희귀 한 이벤트의 스크리닝, 검색 및 표적 이미징및 대량 데이터 볼륨을 수집 할 수 있습니다.

Tags

Array TomographyScanning Electron MicroscopyElectron MicroscopyVolume InformationSerial SectionsData RecordingData AnalysisSample PreparationUltramicrotomeDiamond TrimmingWafer CleavingArray Tomography KnifeRibbon SectioningSample Transfer

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