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Seguimiento de posición atómica de precisión picométrica a través de microscopía electrónica
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Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy
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Seguimiento de posición atómica de precisión picométrica a través de microscopía electrónica

DOI:
10.3791/62164-v

•

15:04 min

•

July 03, 2021

•

, , ,
1Department of Materials Science & Engineering,The Pennsylvania State University, 2Center for Nanophase Materials Sciences,Oak Ridge National Laboratory

Capitoli

  • 00:00Introduction
  • 01:23Acquiring High-Quality Annular Dark Field (ADF)/ Annular Bright Field (ABF) STEM Images
  • 09:17Physical Information Extraction
  • 12:22Representative Results
  • 14:41Conclusion

Summary

Traduzione automatica

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Este trabajo presenta un flujo de trabajo para el seguimiento de la posición atómica en imágenes de microscopía electrónica de transmisión de resolución atómica. Este flujo de trabajo se realiza utilizando una aplicación matlab de código abierto (EASY-STEM).

Tags

Atomic Position TrackingElectron MicroscopyAberration CorrectionSTEM ImagingAtomic ResolutionLattice StrainDefectsImage DenoisingDrift CorrectionAtom Column QuantificationOverlapping AtomsMATLAB ApplicationEasySTEM

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