This content is Free Access.
Capitoli
- 00:05Introduction
- 00:42Instrument and Blotting Parameter Set-up
- 02:53Crystal Harvest Process
- 04:01Light Microscopy for Sample Density Assessment
- 04:30Scanning Electron Microscopy for Sample Assessment
- 05:38Grid Preparation for the Diffraction Experiments at VMXm
- 06:47Results: Analysis of the Microcrystals on the Grids
- 08:24Conclusion
Das Signal-Rausch-Verhältnis von Daten ist eine der wichtigsten Überlegungen bei der Durchführung von Röntgenbeugungsmessungen an Mikrokristallen. Die VMXm-Beamline bietet eine geräuscharme Umgebung und mikrostrahlend für solche Experimente. Hier beschreiben wir Probenvorbereitungsmethoden zur Montage und Kühlung von Mikrokristallen für VMXm und andere makromolekulare Kristallographie-Beamlines mit Mikrofokus.
