Rivista
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Microscopía electrónica de barrido serial de cara de bloque (SBEM) para el estudio de espinas dendríticas
JoVE Journal
Neuroscienze
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JoVE Journal Neuroscienze
Serial Block-Face Scanning Electron Microscopy (SBEM) for the Study of Dendritic Spines
DOI:

11:16 min

October 02, 2021

, , ,

Capitoli

  • 00:05Introduction
  • 01:56Sample Contrasting
  • 05:29Dehydration and Resin Embedding
  • 08:02Trimming and Mounting
  • 09:12Serial Block‐Face Scanning Electron Microscopy Imaging
  • 09:47Representative Results: Dendritic Spine Analysis Using Serial Block‐Face Scanning Electron Microscopy
  • 10:35Conclusion

Summary

Traduzione automatica

La microscopía electrónica de barrido serial de cara de bloque (SBEM) se aplica para obtener imágenes y analizar espinas dendríticas en el hipocampo murino.

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