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形態学的観察および細菌細胞損傷解析のための迅速技術としての接触モード原子間力顕微鏡法
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Contact Mode Atomic Force Microscopy as a Rapid Technique for Morphological Observation and Bacterial Cell Damage Analysis
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形態学的観察および細菌細胞損傷解析のための迅速技術としての接触モード原子間力顕微鏡法

DOI:
10.3791/64823-v

•

05:34 min

•

June 30, 2023

•

, , , ,
1Centro Universitario de los Lagos,Universidad de Guadalajara, 2Centro Nacional de Recursos Genéticos,Instituto Nacional de Investigaciones Forestales, Agrícolas y Pecuarias

Capitoli

  • 00:04Introduction
  • 00:31Bacterial Sample Preparation and AFM Measurements
  • 03:10Results: Atomic Force Contact Microscopic Analysis of Bacterial Cultures Under Nanoparticle Influence
  • 04:46Conclusion

Summary

Traduzione automatica

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ここでは、細菌の特性評価のための簡単で迅速な方法としての原子間力顕微鏡(AFM)の応用を紹介し、細菌のサイズと形状、細菌培養バイオフィルム、殺菌剤としてのナノ粒子の活性などの詳細を分析します。

Tags

Contact Mode Atomic Force MicroscopyMorphological ObservationBacterial Cell Damage AnalysisFixed SampleContact ModeContAI-G ProbesAuto SlopeZ ControllerScan RangeXY PlaneLine By Line LevelingStaphylococcus AureusCocci AggregatesPopulation DistributionCocci Morphology

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