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접촉 모드 형태학적 관찰 및 박테리아 세포 손상 분석을 위한 신속한 기술로서의 원자력 현미경

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Contact Mode Atomic Force Microscopy as a Rapid Technique for Morphological Observation and Bacterial Cell Damage Analysis

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접촉 모드 형태학적 관찰 및 박테리아 세포 손상 분석을 위한 신속한 기술로서의 원자력 현미경

DOI:

10.3791/64823-v

•

05:34 min

•

June 30, 2023

•

Héctor Pérez Ladrón de Guevara, Virginia Villa-Cruz, Rita Patakfalvi, Lily Xochilt Zelaya-Molina, Ramiro Muñiz-Diaz

¹Centro Universitario de los Lagos,Universidad de Guadalajara, ²Centro Nacional de Recursos Genéticos,Instituto Nacional de Investigaciones Forestales, Agrícolas y Pecuarias

Capitoli

00:04Introduction
00:31Bacterial Sample Preparation and AFM Measurements
03:10Results: Atomic Force Contact Microscopic Analysis of Bacterial Cultures Under Nanoparticle Influence
04:46Conclusion

Summary

Traduzione automatica

여기에서는 박테리아 특성 분석을 위한 간단하고 빠른 방법으로 원자력 현미경(AFM)의 적용을 제시하고 박테리아 크기 및 모양, 박테리아 배양 생물막, 살균제로서의 나노 입자의 활성과 같은 세부 사항을 분석합니다.

Tags

Contact Mode Atomic Force Microscopy Morphological Observation Bacterial Cell Damage Analysis Fixed Sample Contact Mode ContAI-G Probes Auto Slope Z Controller Scan Range XY Plane Line By Line Leveling Staphylococcus Aureus Cocci Aggregates Population Distribution Cocci Morphology

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