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생체공학
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Nanotopology细胞粘附在可变角度的全内反射荧光显微镜(VA-TIRFM)
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Nanotopology of Cell Adhesion upon Variable-Angle Total Internal Reflection Fluorescence Microscopy (VA-TIRFM)
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Nanotopology细胞粘附在可变角度的全内反射荧光显微镜(VA-TIRFM)
DOI:
10.3791/4133-v
•
09:14 min
•
October 02, 2012
•
Michael Wagner
,
Petra Weber
,
Harald Baumann
,
Herbert Schneckenburger
1
Hochschule Aalen
,
Institut für Angewandte Forschung
Chapters
00:05
Title
01:40
Seeding and Incubation of Cells
02:47
VA-TIRFM
05:26
Data Analysis
06:45
Results: Calculation of Cell-substrate Distances in Glioblastoma Cells
08:32
Conclusion
Summary
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细胞粘附在基板上的拓扑结构是由可变角度的总内部反射荧光显微镜(VA-TIRFM)与纳米精度测量。
Tags
Nanotopology
Cell Adhesion
Variable-Angle Total Internal Reflection Fluorescence Microscopy (VA-TIRFM)
Surface Topology
Substrate
Nanometer Precision
Transparent Slides
Fluorescent Marker
Plasma Membrane
Illumination
Laser Beam
Total Internal Reflection (TIR)
Evanescent Electromagnetic Field
Fluorescence Images
Cell-substrate Distances
Adhesion Differences
Cell Lines
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