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Scanning-probe Single-electron Capacitance Spectroscopy
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스캐닝 프로브 단일 전자 용량 분광학

DOI:
10.3791/50676-v

•

10:53 min

•

July 30, 2013

•

, , , , ,
1Department of Physics and Astronomy,Michigan State University, 2Department of Chemistry & Biochemistry/Physics,Mercyhurst University, 3Department of Physics,Saint Louis University, 4Department of Physics,Massachusetts Institute of Technology

Chapters

  • 00:05Title
  • 01:57Microscope Setup, Preparation, and Mounting of the High Electron Mobility Transistor Circuit
  • 06:37Capacitance Mode Measurements
  • 08:05Results: Scanning Charge Accumulation and Capacitance-voltage Spectroscopy of Doped Semiconductors
  • 10:17Conclusion

Summary

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스캐닝 프로브 단일 전자 용량 분광 지역화 된 지하 지역에서 단일 전자 운동의 연구를 용이하게합니다. 민감한 충전 감지 회로는 반도체 시료의 표면 아래에 도펀트 원자의 작은 시스템을 조사하기 위해 극저온 스캐닝 프로브 현미경에 통합됩니다.

Tags

Scanning-probeSingle-electronCapacitance SpectroscopyElectronic Quantum StructureSubsurface Charge Accumulation (SCA) ImagingSpatial ResolutionCharge ResolutionHEMTCryogenic Temperatures

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