Cryo-אלקטרון מתכוון בהכנה מיקרוסקופית דגימה של אלומת יונים ממוקדת

Article DOI: 10.3791/51463-v • 10:54 min • July 26th, 2014

July 26th, 2014 •

Stefano Rubino^1,4, Petter Melin³, Paul Spellward², Klaus Leifer¹

¹Department of Engineering Sciences, Uppsala University, ²Gatan Inc., ³Department of Microbiology, Swedish University of Agricultural Sciences, ⁴Physics Department, University of Oslo

챕터

요약
Automatic Translation

English (Original)
العربية (Arabic)
中文 (Chinese)
dansk (Danish)
Nederlands (Dutch)
français (French)
Deutsch (German)
עברית (Hebrew)
हिंदी (Hindi)
italiano (Italian)
日本語 (Japanese)
한국어 (Korean)
norsk (Norwegian)
português (Portugese)
русский (Russian)
español (Spanish)
svenska (Swedish)
Türkçe (Turkish)

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Cryo אלקטרונים מיקרוסקופים, או סורק (SEM) או הילוכים (TEM), נמצא בשימוש נרחב לאפיון של דגימות ביולוגיות או חומרים אחרים עם תכולת מים גבוהה ^1. SEM / אלומת יונים ממוקדת (FIB) משמשת לזיהוי תכונות של עניין בדגימות ולחלץ lamella להעברה לcryo-TEM דק, אלקטרונים שקופים.

Cryo-אלקטרון מתכוון בהכנה מיקרוסקופית דגימה של אלומת יונים ממוקדת

챕터

Tags

관련 동영상

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.