Odaklanmış iyon demeti Of Cryo-elektron Mikroskopi Numune Hazırlama By Means

Article DOI: 10.3791/51463-v • 10:54 min • July 26th, 2014

July 26th, 2014 •

Stefano Rubino^1,4, Petter Melin³, Paul Spellward², Klaus Leifer¹

¹Department of Engineering Sciences, Uppsala University, ²Gatan Inc., ³Department of Microbiology, Swedish University of Agricultural Sciences, ⁴Physics Department, University of Oslo

챕터

요약
Automatic Translation

English (Original)
العربية (Arabic)
中文 (Chinese)
dansk (Danish)
Nederlands (Dutch)
français (French)
Deutsch (German)
עברית (Hebrew)
हिंदी (Hindi)
italiano (Italian)
日本語 (Japanese)
한국어 (Korean)
norsk (Norwegian)
português (Portugese)
русский (Russian)
español (Spanish)
svenska (Swedish)
Türkçe (Turkish)

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Cryo elektron mikroskopları, Tarama (SEM) veya İletim (TEM), ya çok yüksek su içeriği ile ¹ biyolojik örneklerin veya diğer malzemelerin karakterizasyonu için kullanılır. A SEM / Odaklı İyon Işın (FİB) örneklerinde ilgi özelliklerini belirlemek ve cryo-TEM transfer için ince, elektron-saydam tabakalara ayıklamak için kullanılır.

Odaklanmış iyon demeti Of Cryo-elektron Mikroskopi Numune Hazırlama By Means

챕터

Tags

관련 동영상

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.