Journal
/
/
في تحليلات العمق من المصابيح من قبل مجموعة من الأشعة السينية التصوير المقطعي (CT) والمجهر الضوئي (LM) مربوط مع المجهر الإلكتروني الماسح (SEM)
JoVE 신문
공학
JoVE 비디오를 활용하시려면 도서관을 통한 기관 구독이 필요합니다.  전체 비디오를 보시려면 로그인하거나 무료 트라이얼을 시작하세요.
JoVE 신문 공학
In Depth Analyses of LEDs by a Combination of X-ray Computed Tomography (CT) and Light Microscopy (LM) Correlated with Scanning Electron Microscopy (SEM)
DOI:

10:42 min

June 16, 2016

, , ,

Chapters

  • 00:05Title
  • 01:14Performance of Computed Tomography (CT) Scan
  • 03:07Micro Preparation
  • 05:06Light Microscopy (LM) Measurement Setup
  • 06:15Light Microscopy Characterization
  • 07:16Scanning Electron Microscopy (SEM) Analysis
  • 08:32Results: Comprehensive Micro-characterization of an Active Light Emitting Diode
  • 09:49Conclusion

Summary

자동 번역

وأوجز سير العمل الشامل توصيف الجزئي من الأجهزة البصرية النشطة. أنه يحتوي على التحقيقات الهيكلية وكذلك الوظيفية عن طريق CT، LM ووزارة شؤون المرأة. وتتجلى طريقة لLED الأبيض الذي يمكن لا يزال يتم تشغيلها خلال التوصيف.

Related Videos

Read Article