Probing C84-embedded Si Substrate Using Scanning Probe Microscopy and Molecular Dynamics

00:05Title
01:21Fabrication of Hexagonal-closed-packaged (HCP) Overlayer of C₈₄ in Si Substrate
02:57Measurements of Electronic Properties of C₈₄-embedded Si Substrate
05:07Measurements of Surface Magnetism
06:17Measurements of Nanomechanical Properties by AFM
06:49Measurement of Nanomechanical Properties by Molecular Dynamics Simulation
11:05Results: Characterization of C₈₄-embedded Silicon Substrate by Nanomeasurements and Molecular Dynamic Simulation
12:46Conclusion

Summary

자동 번역

This paper reports the nanomaterial fabrication of a fullerene Si substrate inspected and verified by nanomeasurements and molecular dynamic simulation.

التحقيق C<sub> 84</sub> -embedded سي الركيزة عن طريق المجهر التحقيقي وحيوية الجزيئية

•

•

•

Chapters

Summary

자동 번역

Tags

Article

Embed

플레이리스트에 추가

Usage Statistics

Related Videos

التحقيق ورسم الخرائط أسطح الكهربائي في خلايا الوقود الصلبة أكسيد

المسح مسبار واحدة الإلكترون الطيفي السعة

تلفيق بوابة الانضباطي الجرافين أجهزة لمسح حفر نفق المجهر الدراسات مع كولوم الشوائب

التحكم ناحية التلاعب احدة الجزيئات عن طريق المجهر التحقيقي مع واجهة الواقع الافتراضي 3D

دراسة العمليات الديناميكية للأجسام نانو الحجم في السائل باستخدام المسح الضوئي نقل المجهر

الدقة طحن الأنابيب الجزيئية الكربونية الغابات عن طريق انخفاض الضغط الضوئي المجهر الإلكتروني

قياسات كربون في التربة بتحليل النيوترون-غاما في ثابت والمسح الضوئي وسائط

جميع الإلكترونية حل النانوسيكند المسح نفق مجهرية: تسهيل التحقيق في ديناميات تهمة يستعمل واحدة

تطوير الخلايا الشمسية هيتيروجونكشن الفجوة/سي عالية الأداء

التصوير المجهري للتصوير الفائق الطيفي للتصوير الضوئي الفائق الطيفي للتمييز بكفاءة بين إشارات الفلورة

Read Article