This content is Free Access.
Chapters
- 00:05Title
- 00:59Equipment and Substrate Preparation
- 02:39Cantilever and Tip Preparation
- 03:22Set-up of AFM Cell and Cantilever Calibration
- 04:27Approach and Initial Check of the Sample
- 06:31High-resolution Imaging
- 08:09Results: Sub-nanometer Resolution Imaging of Soft and Stiff Samples
- 09:18Conclusion
We presenteren een methode voor het bereiken van sub-nanometer resolutie beelden met amplitude-modulatie (tapping mode) atomic force microscopy in vloeistof. De methode wordt gedemonstreerd op de commerciële atomic force microscopen. We leggen de grondgedachte achter onze keuzes van de parameters en suggereren strategieën voor het oplossen van optimalisatie.
