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超细晶和纳米晶材料的表征采用透射菊池衍射
JoVE 신문
공학
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JoVE 신문
공학
Characterization of Ultra-fine Grained and Nanocrystalline Materials Using Transmission Kikuchi Diffraction
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超细晶和纳米晶材料的表征采用透射菊池衍射
DOI:
10.3791/55506-v
•
09:13 min
•
April 01, 2017
•
Gwénaëlle Proust
,
Patrick Trimby
,
Sandra Piazolo
,
Delphine Retraint
1
School of Civil Engineering
,
The University of Sydney
,
2
Australian Centre for Microscopy and Microanalysis
,
The University of Sydney
,
3
Department of Earth and Planetary Sciences
,
Macquarie University
,
4
Charles Delaunay Institute, LASMIS, UMR STMR CNRS 6281
,
University of Technology of Troyes
Chapters
00:05
Title
00:46
Equipment and Sample Requirements and Experimental Set-up
04:11
EBSD Software Parameters for Data Acquisition
06:36
Results: Characterization of Ultra-fine Grained and Nanocrystalline Microstructures by Transmission Kikuchi Diffraction
08:33
Conclusion
Summary
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本文提供的详细方法来表征使用装备有标准电子背散射衍射系统的扫描电子显微镜超细晶粒和纳米晶材料的微观结构。金属合金和矿物质呈现细化的显微使用进行分析该技术中,示出了其可能的应用的多样性。
Tags
Transmission Kikuchi Diffraction
Microstructure
Crystalline Materials
Submicron Size Grains
Severe Plastic Deformation
Scanning Electron Microscope
EBSD Detector
Sample Preparation
Accelerating Voltage
Aperture
High Current Mode
Working Distance
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