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トランスミッション菊池回折を用いて超微細粒とナノ結晶材料のキャラクタリゼーション

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JoVE 신문 공학

Characterization of Ultra-fine Grained and Nanocrystalline Materials Using Transmission Kikuchi Diffraction

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トランスミッション菊池回折を用いて超微細粒とナノ結晶材料のキャラクタリゼーション

DOI:

10.3791/55506-v

•

09:13 min

•

April 01, 2017

•

Gwénaëlle Proust, Patrick Trimby, Sandra Piazolo, Delphine Retraint

¹School of Civil Engineering,The University of Sydney, ²Australian Centre for Microscopy and Microanalysis,The University of Sydney, ³Department of Earth and Planetary Sciences,Macquarie University, ⁴Charles Delaunay Institute, LASMIS, UMR STMR CNRS 6281,University of Technology of Troyes

Chapters

00:05Title
00:46Equipment and Sample Requirements and Experimental Set-up
04:11EBSD Software Parameters for Data Acquisition
06:36Results: Characterization of Ultra-fine Grained and Nanocrystalline Microstructures by Transmission Kikuchi Diffraction
08:33Conclusion

Summary

자동 번역

この論文は、標準的な電子後方散乱回折システムを備えた走査型電子顕微鏡を用いて超微細粒状およびナノ結晶材料の微細構造を特徴づけるための詳細な方法を提供します。洗練された微細構造を提示する金属合金およびミネラルは、その可能な用途の多様性を示し、この技術を用いて分析されます。

Tags

Keywords: Transmission Kikuchi Diffraction Microstructure Crystalline Materials Submicron Size Grains Severe Plastic Deformation Scanning Electron Microscope EBSD Detector Sample Preparation Accelerating Voltage Aperture High Current Mode Working Distance EBSD Software EBSD Camera

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