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कार्बनिक Optoelectronic डिवाइस गिरावट परीक्षण के लिए एक 3d मुद्रित चैंबर
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A 3D-printed Chamber for Organic Optoelectronic Device Degradation Testing
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कार्बनिक Optoelectronic डिवाइस गिरावट परीक्षण के लिए एक 3d मुद्रित चैंबर

DOI:
10.3791/56925-v

•

08:29 min

•

August 10, 2018

•

, , ,
1Department of Engineering Physics,McMaster University, 2Department of Physics, Engineering Physics and Astronomy,Queen’s University

Chapters

  • 00:04Title
  • 00:44The Chamber Parts and Top Chamber Assembly
  • 03:13Bottom Chamber Assembly
  • 05:22Final Assembly
  • 06:05Current-Voltage Measurements of Individual Pixels on the Device
  • 07:09Results: Current Density Voltage Measurements of a 6 Diode Configuration
  • 07:42Conclusion

Summary

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यहां, हम डिजाइन, निर्माण के लिए एक प्रोटोकॉल मौजूद है, और एक सरल, बहुमुखी 3 डी मुद्रित और हवा के प्रति संवेदनशील कार्बनिक optoelectronic उपकरणों के ऑप्टिकल और बिजली के लक्षण वर्णन के लिए नियंत्रित वायुमंडलीय चैंबर के उपयोग ।

Tags

3D PrintingOrganic OptoelectronicsEnvironmental ChamberDevice Degradation TestingRapid PrototypingVersatile DesignCost-effectiveModular ComponentsO-ringRetaining RingThreaded InsertsOrganic Device Testing

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