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作製と Van Der waals 力ヘテロエピタキシーに基づくフレキシブル強誘電性要素の測定法

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A Fabrication and Measurement Method for a Flexible Ferroelectric Element Based on Van Der Waals Heteroepitaxy

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作製と Van Der waals 力ヘテロエピタキシーに基づくフレキシブル強誘電性要素の測定法

DOI:

10.3791/57221-v

•

10:40 min

•

April 08, 2018

•

Jie Jiang*¹, Yugandhar Bitla*², Qiang-xiang Peng, Yi-Chun Zhou, Ying-Hao Chu

¹Key Laboratory of Low Dimensional Materials and Application Technology of Ministry of Education,Xiangtan University, ²Department of Physics,Indian Institute of Science, ³Department of Materials Science and Engineering,National Chiao Tung University

Chapters

00:00Title
00:41Fabricate the Flexible PZT Thin Film
02:19Ferroelectric Characterization: Bending Test
04:28Ferroelectric Characterization: Thermal Stability
05:19Ferroelectric Characterization: Bending Cyclability Tests
06:23Results: Ferroelectric Properties Under Bent and High Temperature
08:41Conclusion

Summary

자동 번역

この稿ではプロトコルを提案直接まだエピタキシャル成長するフレキシブルリードジルコニウムチタン酸メモリ要素雲母白雲母。

Tags

Keywords: Flexible Ferroelectric Element Van Der Waals Heteroepitaxy PZT Thin Film Mica Substrate PLD SRO Bottom Electrode Platinum Top Electrode Ferroelectric Characterization Bending Test

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