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Transporteur à vie des mesures dans les semi-conducteurs, par le biais de la méthode de décomposition de photoconductivité micro-ondes

JoVE 신문
공학

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JoVE 신문 공학

Carrier Lifetime Measurements in Semiconductors through the Microwave Photoconductivity Decay Method

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Transporteur à vie des mesures dans les semi-conducteurs, par le biais de la méthode de décomposition de photoconductivité micro-ondes

DOI:

10.3791/59007-v

•

07:38 min

•

April 18, 2019

•

Takato Asada, Yoshihito Ichikawa, Masashi Kato²

¹Department of Electrical & Mechanical Engineering,Nagoya Institute of Technology, ²Frontier Research Institute for Material Science,Nagoya Institute of Technology

Chapters

00:04Title
00:49Preparation of the Sample and Aqueous Solutions
01:44Preparation of the Measuring Equipment
03:36Measurement and Data Processing
05:47Results: Normalized and Calculated μ-PCD Decay Curves for the n-type 4H-SIC Sample in Air and Aqueous Solutions
06:29Conclusion

Summary

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L’un des paramètres physiques importants dans les semi-conducteurs, est mesuré transporteur vie présentes via un protocole qui emploient la méthode de décomposition de photoconductivité micro-ondes.

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