Journal
/
공학
/
מדידות שלמים המוביל בתחום המוליכים למחצה דרך השיטה קרינת מיקרוגל Photoconductivity
JoVE 신문
공학
This content is Free Access.
JoVE 신문 공학
Carrier Lifetime Measurements in Semiconductors through the Microwave Photoconductivity Decay Method
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

מדידות שלמים המוביל בתחום המוליכים למחצה דרך השיטה קרינת מיקרוגל Photoconductivity

DOI:
10.3791/59007-v

•

07:38 min

•

April 18, 2019

•

, ,
1Department of Electrical & Mechanical Engineering,Nagoya Institute of Technology, 2Frontier Research Institute for Material Science,Nagoya Institute of Technology

Chapters

  • 00:04Title
  • 00:49Preparation of the Sample and Aqueous Solutions
  • 01:44Preparation of the Measuring Equipment
  • 03:36Measurement and Data Processing
  • 05:47Results: Normalized and Calculated μ-PCD Decay Curves for the n-type 4H-SIC Sample in Air and Aqueous Solutions
  • 06:29Conclusion

Summary

자동 번역

자동 번역

בתור אחד של פרמטרים פיזיים חשוב בתחום המוליכים למחצה, נושאת החיים נמדד בזאת באמצעות פרוטוקול כשנוקטים בשיטה קרינת מיקרוגל photoconductivity.

Tags

Carrier LifetimeSemiconductorMicrowave Photoconductivity DecayMicro-PCD4H Silicon CarbideAqueous SolutionPulsed LaserPhotodiodeOscilloscopeMicrowave WaveguideSchottky Barrier DiodeGun Diode

Article

Embed

플레이리스트에 추가

Usage Statistics

Related Videos

מיקרוגל Photonics מערכות המבוססות על מהודי לחישות-גלריה של מצב

Measurement of Coherence Decay in GaMnAs Using Femtosecond Four-wave Mixing

שימוש במיקרוגל ודוגמאות מקרוסקופית של דיאלקטרי מוצקים לחקר מאפיינים פוטוניים של הפרעות חומרי bandgap פוטוניים

שיטת אמביינט לייצור ionically המגודר פחמן Nanotube הנפוץ קטודה בתאים סולריים האורגנית טנדם

פינת שינוי סלקטיבית של יכולת רטיבות משטח סיליקון על ידי פעמו UV לייזר הקרנה בסביבה נוזלית

כיצד להצית לחץ האטמוספרה מיקרוגל פלזמה לפיד ללא כל igniters נוסף

מדידות התפצלות וזמינות ביולוגיות של הסביבה פלוטוניום שימוש דיפוזיה בThin Films

כימות של ריכוזי מימן שכבות חיצוניות ואת ממשק חומרים בתפזורת באמצעות פרופיל עומק עם ניתוח תגובה גרעיני

אוטומציה של מצב נעילה בתוך לייזר סיב סיבוב קוי קיטוב באמצעות מדידות קיטוב פלט

Dynamics רקומבינציה ב חומרים פוטו סרט דק באמצעות מוליכות מיקרוגל זמן נפתרה

Read Article