This content is Free Access.
Chapters
- 00:04Title
- 00:43High-pressure Freezing
- 01:32Freeze Substitution
- 02:39Microwave-assisted Processing
- 04:10Minimal Resin Embedding
- 04:43Preparation for FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope)
- 05:36“
- 06:55Conclusion
نقدم هنا بروتوكولا للجمع بين اثنين تقنيات تجهيز العينة، الضغط العالي تجميد وتجهيز عينة ساعدت الموجات الدقيقة، تليها الراتنج الدنيا التضمين للحصول على بيانات مع تركيز أيون شعاع مسح إلكتروني المجهري (التعزيز-وزارة شؤون المرأة). ويتجلى هذا باستخدام الماوس عصب ظنبوبي عينة و ايليجانس كاينورهابديتيس.
