Journal
/
공학
/
Visualización de tensión Uniaxial manipulación de dominios antiferromagnéticos en Fe1 +YTe usando un análisis de polarización de Spin microscopio el hacer un túnel
JoVE 신문
공학
JoVE 비디오를 활용하시려면 도서관을 통한 기관 구독이 필요합니다.  전체 비디오를 보시려면 로그인하거나 무료 트라이얼을 시작하세요.
JoVE 신문 공학
Visualizing Uniaxial-strain Manipulation of Antiferromagnetic Domains in Fe1+YTe Using a Spin-polarized Scanning Tunneling Microscope
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Visualización de tensión Uniaxial manipulación de dominios antiferromagnéticos en Fe1 +YTe usando un análisis de polarización de Spin microscopio el hacer un túnel

DOI:
10.3791/59203-v

•

09:06 min

•

March 24, 2019

•

, , , , ,
1Department of Physics, Applied Physics and Astronomy,Binghamton University, 2Institute of Physics,University of Silesia

Chapters

  • 00:04Title
  • 01:13Mechanical Uniaxial-strain Device Setup
  • 02:17Strain Application
  • 04:22STM Experiments
  • 05:52Single Antiferromagnetic Domain on Strained Fe1+yTe
  • 08:12Conclusion

Summary

자동 번역

자동 번역

Uso de tensión uniaxial combinado con polarización de spin túnel microscopía, visualizar y manipular la estructura de dominio antiferromagnéticos de Fe1 + yTe, el compuesto del padre de superconductores basados en hierro.

Tags

Keywords: Uniaxial-strainAntiferromagnetic DomainsFe1+YTeSpin-polarized Scanning Tunneling MicroscopeHigh Temperature SuperconductorsBroken Symmetry StatesSingle CrystalSDM-compatibleDevice TestingVisual Demonstration

Article

Embed

플레이리스트에 추가

Usage Statistics

Related Videos

check_url/kr/59203?article_type=v

Sonda de barrido de un solo electrón espectroscopia de capacitancia
check_url/kr/59203?article_type=v

Fabricación de puerta-sintonizables grafeno dispositivos de escaneo de Estudios microscopía de efecto túnel con Coulomb impurezas
check_url/kr/59203?article_type=v

Visualización de Flujo hyporheic A través de formas de fondo Utilizando Experimentos Dye y Simulación
check_url/kr/59203?article_type=v

Caracterización integral de defectos extendidos en materiales semiconductores por un microscopio electrónico de barrido
check_url/kr/59203?article_type=v

Sondeo de C<sub> 84</sub> -embedded Si Sustrato Uso del análisis de microscopio de sonda y Dinámica Molecular
check_url/kr/59203?article_type=v

Mano manipulación controlada de Moléculas Individuales a través de un microscopio de sonda de barrido con una interfaz de realidad virtual 3D
check_url/kr/59203?article_type=v

El estudio de procesos dinámicos de nano-objetos de tamaño en el líquido de utilizar el escaneado Microscopía Electrónica de Transmisión
check_url/kr/59203?article_type=v

Escaneado de Estudio SQUID de la manipulación del vórtice por contacto local
check_url/kr/59203?article_type=v

Fresado de precisión de nanotubos de carbono de los bosques El uso de baja presión de barrido Microscopía Electrónica
check_url/kr/59203?article_type=v

Demostración de un microscopio integrado de Hyperlens y proyección de imagen de súper resolución

Read Article