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3 डी गहराई प्रोफ़ाइल माध्यमिक आयन मास स्पेक्ट्रोमेट्री का उपयोग कर अलग अशुद्धियों का पुनर्निर्माण
JoVE 신문
화학
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JoVE 신문 화학
3D Depth Profile Reconstruction of Segregated Impurities Using Secondary Ion Mass Spectrometry
DOI:

07:10 min

April 29, 2020

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Chapters

  • 00:00Introduction
  • 00:57Defect Selective Etching
  • 02:09Scanning Electron Microscopy
  • 02:50Secondary Ion Mass Spectrometry
  • 05:34Results: Oxygen Counts in a Cuboid
  • 06:29Conclusion

Summary

자동 번역

प्रस्तुत विधि बताती है कि माध्यमिक आयन मास स्पेक्ट्रोमेट्री से संबंधित माप कलाकृतियों को कैसे पहचानें और हल करें और साथ ही ठोस राज्य सामग्री में अशुद्धियों / डोपेंट के यथार्थवादी 3 डी वितरण प्राप्त करें।

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