Journal
/
/
3D-реконструкция профиля глубины сегрегированных примесей с помощью масс-спектрометрии вторичных ионов
JoVE 신문
화학
This content is Free Access.
JoVE 신문 화학
3D Depth Profile Reconstruction of Segregated Impurities Using Secondary Ion Mass Spectrometry
DOI:

07:10 min

April 29, 2020

, , , ,

Chapters

  • 00:00Introduction
  • 00:57Defect Selective Etching
  • 02:09Scanning Electron Microscopy
  • 02:50Secondary Ion Mass Spectrometry
  • 05:34Results: Oxygen Counts in a Cuboid
  • 06:29Conclusion

Summary

자동 번역

Представленный метод описывает способы выявления и решения артефактов измерения, связанных с масс-спектрометрией вторичных ионов, а также получения реалистичных 3D-распределений примесей/легирующих добавок в твердотельных материалах.

Related Videos

Read Article