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Suivi de position atomique picomètre-précision par microscopie électronique
JoVE 신문
화학
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JoVE 신문 화학
Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy
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Suivi de position atomique picomètre-précision par microscopie électronique

DOI:
10.3791/62164-v

•

15:04 min

•

July 03, 2021

•

, , ,
1Department of Materials Science & Engineering,The Pennsylvania State University, 2Center for Nanophase Materials Sciences,Oak Ridge National Laboratory

Chapters

  • 00:00Introduction
  • 01:23Acquiring High-Quality Annular Dark Field (ADF)/ Annular Bright Field (ABF) STEM Images
  • 09:17Physical Information Extraction
  • 12:22Representative Results
  • 14:41Conclusion

Summary

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Ce travail présente un flux de travail pour le suivi de la position atomique dans l’imagerie par microscopie électronique à transmission de résolution atomique. Ce flux de travail est effectué à l’aide d’une application Matlab open source (EASY-STEM).

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Keywords: Atomic Position TrackingElectron MicroscopyAberration CorrectionSTEM ImagingAtomic ResolutionLattice StrainDefectsImage DenoisingDrift CorrectionAtom Column QuantificationOverlapping AtomsMATLAB ApplicationEasySTEM

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