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Chapters
- 00:05Introduction
- 01:08Sample Preparation for Co-Localized Imaging of a Metal Alloy
- 02:11KPFM Imaging
- 06:51SEM, EDS, and EBSD Imaging
- 07:41KPFM, SEM, EDS, and EBSD Image Overlay and Analysis
- 09:37Results I: 3D Printed Ternary Ti Alloy: KPFM and SEM/EBSD
- 10:41Results II: Cross-Sectional Analysis of Zr Alloys for Nuclear Cladding: KPFM, SEM, and Raman
- 11:21Conclusion
La microscopía de fuerza de sonda Kelvin (KPFM) mide la topografía de la superficie y las diferencias en el potencial de superficie, mientras que la microscopía electrónica de barrido (SEM) y las espectroscopias asociadas pueden dilucidar la morfología de la superficie, la composición, la cristalinidad y la orientación cristalográfica. En consecuencia, la colocalización de SEM con KPFM puede proporcionar información sobre los efectos de la composición a nanoescala y la estructura de la superficie sobre la corrosión.
