Journal
/
공학
/
Een virtueel simulatie-experiment van mechanica: materiaalvervorming en falen op basis van scanning elektronenmicroscopie
JoVE 신문
공학
JoVE 비디오를 활용하시려면 도서관을 통한 기관 구독이 필요합니다.  전체 비디오를 보시려면 로그인하거나 무료 트라이얼을 시작하세요.
JoVE 신문 공학
A Virtual Simulation Experiment of Mechanics: Material Deformation and Failure Based on Scanning Electron Microscopy
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Een virtueel simulatie-experiment van mechanica: materiaalvervorming en falen op basis van scanning elektronenmicroscopie

DOI:
10.3791/64521-v

•

06:54 min

•

January 20, 2023

•

, , ,
1School of Civil Engineering,Wuhan University, 2Department of Artificial Intelligence and Automation,Wuhan University

Chapters

  • 00:05Introduction
  • 00:44Molding the Specimen
  • 02:48Specimen Characterization, Loading, and Nanoindenter Installation
  • 03:40In‐Situ Scanning Electron Microscopy (SEM) Experiment
  • 04:56Results: Efficiency of the Web-Based Virtual Simulation Experiment
  • 06:22Conclusion

Summary

자동 번역

자동 번역

Dit werk presenteert een driedimensionaal virtueel simulatie-experiment voor materiaalvervorming en -falen dat gevisualiseerde experimentele processen biedt. Door middel van een reeks experimenten kunnen gebruikers vertrouwd raken met de apparatuur en de bewerkingen leren in een meeslepende en interactieve leeromgeving.

Tags

Virtual SimulationMaterial DeformationMaterial FailureScanning Electron MicroscopyExperimental ProtocolsEquipment UseTheoretical VerificationLaboratory SkillsHigh Temperature Universal Creep Testing MachineParallel Plate Compression MoldingMetallographic Specimen InlayingPolymethyl Methacrylate (PMMA)PolishingCorrosion

Article

Embed

플레이리스트에 추가

Usage Statistics

Related Videos

Scanning-probe Single-electron Capaciteit Spectroscopie

Experimentele methoden voor Onderzoek van Shape geheugen gebaseerd Elastocaloric Cooling Processen en Model Validation

Simulatie van de mens veroorzaakte Trillingen Op basis van de kenmerk-veld Voetganger Behavior

In detail Analyses LEDs door een combinatie van X-ray Computed Tomography (CT) en lichtmicroscopie (LM) gecorreleerd met Scanning Electron Microscopy (SEM)

Uitgebreide karakterisatie van Extended Defecten in Semiconductor Materials door een Scanning Electron Microscope

Hand Gecontroleerde Manipulatie van enkele moleculen via een Scanning Probe Microscope met een 3D Virtual Reality Interface

Het bestuderen van dynamische processen van Nano-sized Objecten in Vloeistof met behulp van Scanning Transmission Electron Microscopy

Precisie Frezen van koolstof nanobuis Bossen Met behulp van Low Pressure Scanning Electron Microscopy

Uitdagingen in Reologische karakterisering van sterk geconcentreerde Suspensions - Een Case Study for-Zeefdruk Silver Plakt

Studie van Siphon Breaker Experiment en simulatie voor een onderzoeksreactor

Read Article