Summary

Elektrokjemisk Etsing og karakterisering av Sharp Feltet utslippspunkter for Electron Impact ionisering

Published: July 12, 2016
doi:

Summary

A method for electrochemically etching field emission tips is presented. Etching parameters are characterized and the operation of the tips in field emission mode is investigated.

Abstract

A new variation of the drop-off method for fabricating field emission points by electrochemically etching tungsten rods in a NaOH solution is described. The results of studies in which the etching current and the molarity of the NaOH solution used in the etching process were varied are presented. The investigation of the geometry of the tips, by imaging them with a scanning electron microscope, and by operating them in field emission mode is also described. The field emission tips produced are intended to be used as an electron beam source for ion production via electron impact ionization of background gas or vapor in Penning trap mass spectrometry applications.

Introduction

Skarpe tips eller punkter har lenge vært brukt i mikroskopi programmer, for eksempel innen ion mikroskop (FIM) 1 og scanning tunneling mikroskop (STM) 2, og en rekke teknikker for å produsere skarpe tips av ulike materialer har blitt utviklet tre. Disse skarpe tips kan også brukes som feltutslippspunkter (FEPs) ved å bruke en høy spenning til dem, og tjene som en praktisk elektronstråle kilde. En anvendelse av for eksempel kilde er ione-produksjon via elektron impact ionisering (EII). FEP er spesielt fordelaktig i anvendelser hvor temperatursvingninger fremstilt ved termisk emittere er uønsket. For eksempel ion produksjon via EII bakgrunns gass eller damp i høy presisjon Penning feller 4,5.

En enkel metode for fremstilling av FEPs er til elektrokjemisk etse wolframstaver i en natriumhydroksid (NaOH) oppløsning. Denne teknikken er relativt enkel å gjennomføre medbeskjedne utstyr og har vist seg å være ganske reproduserbar og pålitelig. En rekke metoder er beskrevet i litteraturen, og forbedringer av disse teknikkene fortsatt vises seks. Her beskriver vi en fremgangsmåte for elektrokjemisk etsing av wolfram tips i en NaOH-oppløsning. Vår fremgangsmåte er en variant av lamellen drop-off teknikk 7,8, og det flytende sjiktet teknikken 9,10. Som disse to metodene det muliggjør produksjon av to tips fra en enkelt etsing prosedyre. Et bilde av den eksperimentelle apparaturen for å etse spissene er vist i figur 1.

Figur 1
Figur 1. Etsing apparat. Foto av den eksperimentelle apparater som brukes for elektrokjemisk etsing av wolfram stenger med NaOH løsning. Vennligst klikkher for å se en større versjon av dette tallet.

Elektrokjemisk etsing av wolfram i den vandige NaOH-basen skjer via en to-trinns prosess. Først blir mellom wolfram oksider som dannes, og andre, er disse oksyder er ikke-elektrokjemisk oppløst for å danne det oppløselige tung anion. Denne fremgangsmåte er beskrevet, i forenklet form, ved de to reaksjonene

(1) W + 6OH → WO 3 (S) + 3 H 2 O + 6e -, og

(2) WO 3 (S) + = 2-OH → WO 4 2- + H2O

Etsing strøm og NaOH-oppløsningen molaritet anvendes påvirke den tid og spenning som kreves for å etse gjennom wolfram stang. Studier av disse effektene blir presentert og diskutert. Enda viktigere, etsning parameterne har en effekt på geometrien av spissene og, som sådan, på deres drift i feltavgi modus. Geometrien av tips vi produserte var preget av tenkelig dem med en scanning elektronmikroskop (SEM). Disse bildene kan brukes til å beregne, for eksempel radius. I tillegg ble spissene drevet i feltavgi modus ved å påtrykke en negativ spenning på typisk noen få hundre volt til noen få kilovolt til dem og overvåke den resulterende elektronemisjonsstrøm. Forholdet mellom feltavgivende strøm, I, og anvendt forspenning, V, kan beskrives ved den Fowler-Nordheim ligning 11

(3) I = AV 2 e -Cr eff / V,

hvor r eff er den effektive radius av spissen, A er en konstant, og C er den andre Fowler-Nordheim konstant ligning 9 , Hvori b = 6,83 eV 3/2 V / nm,030eq11.jpg "/> er arbeidet funksjon av wolfram ( ligning 11 ≈ 4,5 eV), k er en faktor som avhenger av geometrien (k ≈ 5), og ligning 12 er den Nordheim bildekorreksjon sikt ( ligning 12 ≈ 1) 12. Derfor kan den effektive radius av spissen bli bestemt ved måling av den elektronstrøm som en funksjon av forspenning. Nærmere bestemt kan den hentes fra helningen av en såkalt Fowler-Nordheim (FN) plotting av ln (I / V 2) vs 1 / V.

Protocol

1. Elektrokjemisk Etching Eksperimentelt oppsett Apparater Merk: elektrokjemisk etsing oppsett krever en standard 0 – 30 V likestrøm (DC) benkeplate Bøk strømforsyning og riktige kabler, en skilletrakt, en bred base glassbeger, og standard stang og nytte klemme med elektrisk isolerende håndtak. Små skruer, isolerte stand-offs, og krokodilleklemmer vil også være nødvendig. Andre elementer, som er beskrevet nedenfor og vist på bildet av etse anordningen…

Representative Results

Studier av etsning parametere Under etseprosessen strømforsyningen drives i konstantstrømmodus. Den spenning som kreves for å opprettholde denne konstant strøm øker noe som wolfram stangen er etset bort (på grunn av økningen i motstanden av stangen). Den nåværende faller nesten til null når spissen etser hele veien gjennom. En liten strøm fortsetter å strømme på grunn av det faktum at den øvre s…

Discussion

Vi har beskrevet enkle prosedyrer for å elektro etse skarpe feltet utslippspunkter (FEPs) i en NaOH-løsning, og å teste FEPs ved å operere dem i feltet utslippsmodus. Etsefremgangsmåten beskrevet er en variant av de eksisterende teknikkene-lamellen drop-off teknikk 7,8, og det flytende sjiktet teknikken 9,10. Men vi fant det å være mer praktisk og pålitelig å implementere enn de nevnte metoder.

Før etseprosedyren, for å minimalisere sannsynligheten for fremst…

Declarações

The authors have nothing to disclose.

Acknowledgements

We acknowledge the services of Stanley Flegler, Carol Flegler, and Abigail Tirrell at the MSU Center for Advanced Microscopy. We thank Ray Clark and Mark Wilson for technical assistance with the set-up of the electrochemical etching apparatus. Earlier contributions from Anne Benjamin, Georg Bollen, Rafael Ferrer, David Lincoln, Stefan Schwarz and Adrian Valverde, and technical assistance from John Yurkon are also acknowledged. This work was partially supported by the National Science Foundation contract no. PHY-1102511 and PHY-1307233, Michigan State University and the Facility for Rare Isotope Beams, and Central Michigan University.

Materials

Tungsten Rod 0.020" x 12" ESPI Metals http://www.espimetals.com/index.php/online-catalog/467-Tungsten  3N8 Purity
NaOH salt Cole-Parmer Item # WU-88404-71 100 g
Separatory funnel Cole-Parmer Item# WU-34506-03 250 mL 
DC Power supply BK Precision 1672 Triple Output 0 – 32 V, 0 – 3 A DC Power Supply
Acetone Cole-Parmer Item# WU-88000-68 500 mL
Data Acquisition Card National Instruments NI PXI-6221 16 AI, 24 DIO, 2 AO
Relay Magnecraft 276 XAXH-5D 7 A, 30 V DC Reed Relay
6-way 6" conflat flange cross Kurt J Lesker C6-0600
6" to 2-3/4" conflat zero length reducer flange  (x3) Kurt J Lesker RF600X275
2-3/4" conflat flange SHV feedthrough Kurt J Lesker IFTSG041033
2-3/4" conflat flange BNC feedthrough Kurt J Lesker IFTBG042033
2-3/4" conflat flange linear feedthrough MDC 660006, REF# BLM-275-2
6" conflat flange blankoff Kurt J Lesker F0600X000N
6" conflat flange window Kurt J Lesker VPZL-600
HV Power supply Keithley Instruments Keithley Model #2290-5 0 – 5 kV DC HV Power Supply
Picoammeter Keithley Instruments Keithley Model #6485
Faraday Cup Beam Imaging Solutions Model FC-1 Faraday Cup

Referências

  1. Muller, E. W., Bahadur, K. Field Ionization of Gases at a Metal Surface and the Resolution of the Field Ion Microscope. Phys. Rev. 102, 624 (1956).
  2. Binnig, G., Rohrer, H. Scanning Tunneling Microscopy. Helv. Phys. Acta. 55, 726-735 (1982).
  3. Melmed, A. J. The art and science and other aspects of making sharp tips. J. Vac. Sci. Technol. B. 9, 601-608 (1990).
  4. Shi, W., Redshaw, M., Myers, E. G. Atomic masses of 32,33S, 84,86Kr, and 129,132Xe with uncertainties 0.1 ppb. Phys. Rev. A. 72, 022510 (2005).
  5. Van Dyck, R. S., Zafonte, S. L., Van Liew, S., Pinegar, D. B., Schwinberg, D. B. Ultraprecise Atomic Mass Measurement of the α particle and 4He. Phys. Rev. Lett. 92, 220802 (2004).
  6. Hobara, R., Yoshimoto, S., Hasegawa, S., Sakamoto, K. Dynamic electrochemical-etching technique for tungsten tips suitable for multi-tip scanning tunneling microscopes. e-J. Surf. Sci. Nanotechnol. 5, 94-98 (2007).
  7. Klein, M., Schwitzgebel, G. An improved lamellae drop-off technique for sharp tip preparation in scanning tunneling microscopy. Rev. Sci. Instrum. 68, 3099-3103 (1997).
  8. Kerfriden, S., Nahlé, A. H., Campbell, S. A., Walsh, F. C., Smith, J. R. The electrochemical etching of tungsten STM tips. Electrochim. Acta. 43, 1939-1944 (1998).
  9. Lemke, H., Göddenhenrich, T., Bochem, H. P., Hartmann, U., Heiden, C. Improved microtips for scanning probe microscopy. Rev. Sci. Instrum. 61, 2538-2538 (1990).
  10. Song, J. P., Pryds, N. H., Glejbøl, K., Mørch, K. A., Thölén, A. R., Christensen, L. N. A development in the preparation of sharp scanning tunneling microscopy tips. Rev. Sci. Instrum. 64, 900-903 (1993).
  11. Fowler, R. H., Nordheim, L. Electron Emission in Intense Electric Fields. Proc. R. Soc. Lond. A. , 119-173 (1928).
  12. Kim, Y. -. G., Choi, E. -. H., Kang, S. -. O., Cho, G. Computer-controlled fabrication of ultra-sharp tungsten tips. J. Vac. Sci. Technol. B. 16, 2079 (1998).
  13. Brown, K. L., Tautfest, G. W. Faraday-Cup Monitors for High-Energy Electron Beams. Rev. Sci. Instrum. 27, 696 (1956).
  14. Redshaw, M., et al. Fabrication and characterization of field emission points for ion production in Penning trap applications. Int. J. Mass Spectrom. 379, 187-193 (2015).
  15. Ibe, J. P., et al. On the electrochemical etching of tips for scanning tunneling microscopy. J. Vac. Sci. Technol. A. 8, 3570 (1990).
  16. Ekvall, I., Wahlström, E., Claesson, D., Olin, H., Olsson, E. Preparation and characterization of electrochemically etched W tips for STM. Meas. Sci. Technol. 10, 11-18 (1999).
  17. Schiller, C., Koomans, A. A., van Rooy, T. L., Schönenberger, C., Elswijk, H. B. Decapitation of tungsten field emitter tips during sputter sharpening. Surf. Sci. 339, L925-L930 (1995).
check_url/pt/54030?article_type=t

Play Video

Citar este artigo
Van Well, T. L., Redshaw, M., Gamage, N. D., Kandegedara, R. M. E. B. Electrochemical Etching and Characterization of Sharp Field Emission Points for Electron Impact Ionization. J. Vis. Exp. (113), e54030, doi:10.3791/54030 (2016).

View Video