Journal
/
/
ركزت شعاع ايون طحن والمجهر الإلكتروني لأنسجة الدماغ
JoVE Journal
Neurociência
This content is Free Access.
JoVE Journal Neurociência
Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue
DOI:

08:57 min

July 06, 2011

, ,

Capítulos

  • 00:05Título
  • 01:29Sample Fixation and Resin Embedding
  • 04:00Preparing the Sample for the FIB/SEM
  • 05:55Imaging the FIB/SEM
  • 08:03Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue
  • 08:40Conclusion

Summary

Tadução automática

هذا البروتوكول يصف كيف يمكن أن تكون على استعداد نسيج المخ جزءا لا يتجزأ من الراتنج والمصورة في الأبعاد الثلاثة في شعاع ايون ركزت والمسح الضوئي المجهر الالكتروني.

Vídeos Relacionados

Read Article