/
/
Intakt Histologisk Karakterisering av Brain-implantert Microdevices og omkringliggende vev
This content is Free Access.
Capítulos
- 00:05Título
- 02:12Brain Removal with In situ Devices
- 05:17Tissue Processing and Clearing
- 07:05Panorama Imaging of Full Tissue and Device Interface
- 09:26Results: Intact Histological Characterization of Brain-implanted Microdevices and Surrounding Tissue
- 10:51Conclusion
Her presenterer vi en histologisk metode for å fange, merking, optisk fjerne og bildebehandling intakt hjernevev grensesnitt rundt kronisk implanterte microdevices i gnager hjernevev. Resultater fra teknikkene omfatter denne metoden er nyttig for å forstå virkningen av ulike penetrerende hjerneskade-implantater på deres omkringliggende vev.
