Journal
/
Engenharia
/
Atom Probe Tomography Studies på Cu (In, Ga) Se-<sub> 2</sub> Korngränser
JoVE Journal
Engenharia
É necessária uma assinatura da JoVE para visualizar este conteúdo.  Faça login ou comece sua avaliação gratuita.
JoVE Journal Engenharia
Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Atom Probe Tomography Studies på Cu (In, Ga) Se-<sub> 2</sub> Korngränser

DOI:
10.3791/50376-v

•

09:51 min

•

April 22, 2013

•

, , , , ,
1Department of Microstructure Physics and Alloy Design,Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, 2Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg ( ZSW )

Capítulos

  • 00:05Título
  • 02:29Sample Fabrication for Atom Probe Tomography Analysis
  • 05:43Atom Probe Tomography Analysis in a CAMECA LEAP 3000X HR System
  • 06:31Reconstruction of Atom Probe Tomography Data
  • 07:13Results: Elemental Maps and Concentration Depth Profiles of a Grain Boundary
  • 08:38Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

I detta arbete, beskriver vi användningen av atomen-sonden tomography teknik för att studera korngränserna i absorbentskiktet i en CIGS solcell. En ny metod för att framställa de tips atom prob innehållande den önskade korngränsen med en känd struktur presenteras också här.

Tags

Atom Probe TomographyCu(InGa)Se2Grain BoundariesNanoscale CharacterizationSite-specific Sample PreparationFocused-ion-beamElectron Backscatter DiffractionTransmission Electron MicroscopyThin-film Solar Cells

Article

Embed

ADICIONAR À PLAYLIST

Usage Statistics

Vídeos Relacionados

check_url/pt/50376?article_type=v

Scanning-sond Single-elektron kapacitans spektroskopi
check_url/pt/50376?article_type=v

Experiment på Ultraljud Smörjning med hjälp av en piezoelektriskt assisterad tribometer och optisk Profilometer
check_url/pt/50376?article_type=v

Mätningen av Ostadig yttryck med hjälp av en fjärrkontroll mikrofon Probe
check_url/pt/50376?article_type=v

Probing C<sub> 84</sub> -embedded Si substrat med användning av svepspetsmikroskopi och Molecular Dynamics
check_url/pt/50376?article_type=v

Mikrofluidisk Imaging Flödescytometri genom Asymmetrisk Detektering Tidssträckning Optisk Mikroskopi (ATOM)
check_url/pt/50376?article_type=v

In Situ Övervakning av den accelererade prestandaförsämring av solceller och moduler: en fallstudie för Cu (i, Ga) Se2 solceller
check_url/pt/50376?article_type=v

Tillverkning av magnetiska nanostrukturer på kisel nitriden membran för magnetiska Vortex studier med överföring mikroskopi tekniker
check_url/pt/50376?article_type=v

Tillverkning av robust Nanoscale kontakt mellan en Silvernanowire elektrod och CdS buffertskikt i Cu (i, ga) se2 thin-film solceller
check_url/pt/50376?article_type=v

Visualisering av misslyckande och tillhörande korn skala mekaniskt beteende av granulat jordar under skjuvning med Synchrotron röntgen-mikrotomografi
check_url/pt/50376?article_type=v

Förbättra förbränningsprestanda för en hybrid Rocket Engine med hjälp av en ny bränslespann med en kapslad helisk struktur

Read Article