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Capítulos
- 00:05Título
- 01:24Preparation and Set-up
- 02:35Optimizing the Set-up
- 04:30Running the Experiment
- 06:53Data Processing
- 09:57Results: Transient Flow Near the Surface of a Flat Plate
- 11:25Conclusion
उच्च संकल्प, उच्च गति कण छवि velocimetry (PIV) का उपयोग कर सीमाओं के पास क्षणिक प्रवाह का अध्ययन करने के लिए एक प्रक्रिया यहाँ वर्णित है. PIV ऐसी छवि और रिकॉर्डिंग गुण, लेजर चादर गुण, और विश्लेषण एल्गोरिदम के रूप में कई पैरामीटर बाधाओं के अनुकूलन के द्वारा किसी भी ऑप्टिकली सुलभ प्रवाह को लागू एक गैर दखल देने माप तकनीक है.
