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Measurement of X-ray Beam Coherence along Multiple Directions Using 2-D Checkerboard Phase Grating

Medição do feixe de raios X coerência ao longo de múltiplas direções Usando 2-D Checkerboard fase reticulada

DOI:
10.3791/53025-v

•

10:39 min

•

October 11, 2016

•

, , , ,
1X-ray Science Division, Advanced Photon Source,Argonne National Laboratory, 2Division of Science,Diamond Light Source Ltd.

Capítulos

  • 00:05Título
  • 00:41Preparation of the 2-D Checkerboard Phase Grating
  • 04:43Experiment Setup and Alignment at the Synchrotron Facility
  • 06:17Performing Coherence Measurements
  • 08:19Results: Representative Data Measured Using 18 keV X-rays at 1-BM-B Experiment Hutch of Advanced Photon Source
  • 09:59Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

O procedimento de protocolo de medição e análise de dados são determinados para obter coerência transversal de uma fonte de raios-X radiação síncrotron ao longo de quatro direções simultaneamente usando uma única fase do tabuleiro de damas 2-D ralar. Esta técnica simples pode ser aplicado para a completa caracterização coerência transversal de fontes de raios-X e óptica de raios-X.

Tags

Keywords: X-ray Beam Coherence2-D Checkerboard Phase GratingSynchrotron BeamlineGrading InterferometryTransverse Coherence2D GradientsElectroplating MoldSilicon WaferSilicon NitrideChromiumGoldPMMA ResistElectron Beam LithographyIsopropyl AlcoholDeveloper

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