In Depth Analyses of LEDs by a Combination of X-ray Computed Tomography (CT) and Light Microscopy (LM) Correlated with Scanning Electron Microscopy (SEM)

J&#246;rg Meyer; Christian Thomas; Frank Tappe; Tekie Ogbazghi

doi:10.3791/53870

/

I Dybde Analyser af lysdioder ved en kombination af X-ray Computed Tomography (CT) og Light Microscopy (LM) korreleret med Scanning Electron Microscopy (SEM)

JoVE Journal
Engenharia

É necessária uma assinatura da JoVE para visualizar este conteúdo. Faça login ou comece sua avaliação gratuita.

JoVE Journal Engenharia

In Depth Analyses of LEDs by a Combination of X-ray Computed Tomography (CT) and Light Microscopy (LM) Correlated with Scanning Electron Microscopy (SEM)

I Dybde Analyser af lysdioder ved en kombination af X-ray Computed Tomography (CT) og Light Microscopy (LM) korreleret med Scanning Electron Microscopy (SEM)

DOI:

10.3791/53870-v

•

10:42 min

•

June 16, 2016

•

Jörg Meyer, Christian Thomas, Frank Tappe, Tekie Ogbazghi

¹Department Lippstadt,Hamm-Lippstadt University of Applied Sciences

Capítulos

00:05Título
01:14Performance of Computed Tomography (CT) Scan
03:07Micro Preparation
05:06Light Microscopy (LM) Measurement Setup
06:15Light Microscopy Characterization
07:16Scanning Electron Microscopy (SEM) Analysis
08:32Results: Comprehensive Micro-characterization of an Active Light Emitting Diode
09:49Conclusion

Summary

Tadução automática

En arbejdsgang for omfattende mikro-karakterisering af aktive optiske enheder er skitseret. Den indeholder strukturelle såvel som funktionelle undersøgelser ved hjælp af CT, LM og SEM. Fremgangsmåden er påvist i en hvid LED, som kan stadig betjenes under karakterisering.

I Dybde Analyser af lysdioder ved en kombination af X-ray Computed Tomography (CT) og Light Microscopy (LM) korreleret med Scanning Electron Microscopy (SEM)

•

•

•

Capítulos

Summary

Tadução automática

Tags

Article

Embed

ADICIONAR À PLAYLIST

Usage Statistics

Vídeos Relacionados

Energy Dispersive X-ray Tomography for 3D Elemental Kortlægning af Individuelle Nanopartikler

Manglende Analyse af batterier Brug Synchrotronbestrålingscenter-baserede Hard røntgen Microtomography

Måling af X-ray Beam Sammenhæng ad flere retninger Brug 2-D Checkerboard Phase rist

Dynamisk Pore-skala Reservoir-tilstand Imaging af reaktion i Karbonater Brug Synchrotron Fast Tomography

Studere dynamiske processer af Nano-størrelse Objekter i Liquid hjælp Scanning Transmission Electron Microscopy

Precision Milling af kulstof nanorør skove Brug Low Pressure Scanning Electron Microscopy

Forbedret elektron injektion og Exciton indespærring for ren blå kvante-Dot lysemitterende dioder ved at indføre delvist oxideret aluminium katode

Synkrotron X-ray Microdiffraction og fluorescens billeddannelse af mineralsk og Rock prøver

Røntgenstråle inducerede aktuelle målinger for multi modal røntgen mikroskopi af solceller

Graphene-Assisted Quasi-van der Waals Epitaxy af AlN Film på Nano-mønstrede Sapphire Substrat for Ultraviolet Light Emitting Diodes

Read Article