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En Profondeur Analyses de LED par une combinaison de tomodensitométrie à rayons X (CT) et Microscopie Light (LM) Corrélée avec microscopie électronique à balayage (MEB)
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Capítulos
- 00:05Título
- 01:14Performance of Computed Tomography (CT) Scan
- 03:07Micro Preparation
- 05:06Light Microscopy (LM) Measurement Setup
- 06:15Light Microscopy Characterization
- 07:16Scanning Electron Microscopy (SEM) Analysis
- 08:32Results: Comprehensive Micro-characterization of an Active Light Emitting Diode
- 09:49Conclusion
Un flux de travail pour les micro-caractérisation complète de dispositifs optiques actifs est décrit. Il contient des enquêtes structurelles ainsi que fonctionnelles au moyen de CT, LM et SEM. La méthode est démontrée pour une LED blanche qui peut être encore être exploités lors de la caractérisation.
