Journal
/
Engenharia
/
ב ניתוח עומק של נוריות ידי שילוב של טומוגרפיה ממוחשבת X-ray (CT) ואור מיקרוסקופית (LM) בקורלציה עם מיקרוסקופ אלקטרוני סורק (SEM)
JoVE Journal
Engenharia
É necessária uma assinatura da JoVE para visualizar este conteúdo.  Faça login ou comece sua avaliação gratuita.
JoVE Journal Engenharia
In Depth Analyses of LEDs by a Combination of X-ray Computed Tomography (CT) and Light Microscopy (LM) Correlated with Scanning Electron Microscopy (SEM)
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

ב ניתוח עומק של נוריות ידי שילוב של טומוגרפיה ממוחשבת X-ray (CT) ואור מיקרוסקופית (LM) בקורלציה עם מיקרוסקופ אלקטרוני סורק (SEM)

DOI:
10.3791/53870-v

•

10:42 min

•

June 16, 2016

•

, , ,
1Department Lippstadt,Hamm-Lippstadt University of Applied Sciences

Capítulos

  • 00:05Título
  • 01:14Performance of Computed Tomography (CT) Scan
  • 03:07Micro Preparation
  • 05:06Light Microscopy (LM) Measurement Setup
  • 06:15Light Microscopy Characterization
  • 07:16Scanning Electron Microscopy (SEM) Analysis
  • 08:32Results: Comprehensive Micro-characterization of an Active Light Emitting Diode
  • 09:49Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

זרימת עבודה עבור מייקרו-אפיון מקיף של מכשירים אופטיים פעילים מתוארת. הוא מכיל מבניים, כמו גם חקירות פונקציונליות באמצעות CT, LM ו- SEM. השיטה מודגמת עבור LED לבן אשר ניתן עדיין להיות מופעל במהלך האפיון.

Tags

X-ray Computed Tomography (CT)Light Microscopy (LM)Scanning Electron Microscopy (SEM)Micro-characterizationFailure AnalysisReverse EngineeringMicroelectronic DevicesOptical PropertiesMicrostructureComposite MaterialsAuto-scan OptimizerDetector ShiftSample PreparationEpoxy ResinSilver Wire

Article

Embed

ADICIONAR À PLAYLIST

Usage Statistics

Vídeos Relacionados

Dispersive אנרגיה טומוגרפיית רנטגן עבור מיפוי 3D היסודות של חלקיקים בודדים

ניתוח כישלון של סוללות שימוש Microtomography הקשיח רנטגן מבוסס Synchrotron

מדידת רנטגן Beam קוהרנטיות לאורך כיוונים מרובים באמצעות 2-D דמקה שלב פומפיה

Dynamic נקבובית בקנה מידה Reservoir-מצב הדמיה של ריאקציה קרבונטים שימוש טומוגרפיה Synchrotron מהיר

לימוד תהליכים דינמיים של אובייקטים בגודל ננו בנוזל באמצעות מיקרוסקופי אלקטרוני סריקת הילוכים

כרסום Precision של יערות Nanotube הפחמן באמצעות סריקה בלחץ נמוך למיקרוסקופיה אלקטרונית

הזרקה משופרת אלקטרון וכליאתם אקסיטון עבור טהור קוונטית-נקודה כחולה דיודות פולטות אור על ידי החדרת חלקית תחמוצת אלומיניום קטודה

סינכרוטרון Microdiffraction רנטגן והדמיה זריחה של דגימות הסלע המינרלים

קרן רנטגן המושרה מדידות נוכחיות עבור מיקרוסקופית רנטגן רב-מודאליים של תאים סולאריים

גראפן בסיוע-ואן דר ואלס כאפיאידיי הסרט על בסיס הספיר ננו-בדוגמת המצע עבור דיודות אור אולטרה סגול

Read Article