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In analisi di profondità di LED da una combinazione di raggi X Tomografia Computerizzata (TC) e microscopia ottica (LM) correlata con microscopia elettronica a scansione (SEM)
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Capítulos
- 00:05Título
- 01:14Performance of Computed Tomography (CT) Scan
- 03:07Micro Preparation
- 05:06Light Microscopy (LM) Measurement Setup
- 06:15Light Microscopy Characterization
- 07:16Scanning Electron Microscopy (SEM) Analysis
- 08:32Results: Comprehensive Micro-characterization of an Active Light Emitting Diode
- 09:49Conclusion
Un flusso di lavoro per la completa micro-caratterizzazione di dispositivi ottici attivi è delineato. Esso contiene le indagini strutturali e funzionali per mezzo di CT, LM e SEM. Il metodo è dimostrata per un LED bianco, che può essere ancora essere azionato durante la caratterizzazione.
