/
/
I Djup Analyser av lysdioder genom en kombination av röntgen Computed Tomography (CT) och ljusmikroskop (LM) korrelerad med svepelektronmikroskop (SEM)
É necessária uma assinatura da JoVE para visualizar este conteúdo. Faça login ou comece sua avaliação gratuita.
Capítulos
- 00:05Título
- 01:14Performance of Computed Tomography (CT) Scan
- 03:07Micro Preparation
- 05:06Light Microscopy (LM) Measurement Setup
- 06:15Light Microscopy Characterization
- 07:16Scanning Electron Microscopy (SEM) Analysis
- 08:32Results: Comprehensive Micro-characterization of an Active Light Emitting Diode
- 09:49Conclusion
En arbetsflöde för omfattande mikro karakterisering av aktiva optiska anordningar beskrivs. Den innehåller strukturella samt funktionella undersökningar med hjälp av CT, LM och SEM. Metoden demonstreras för en vit lysdiod som kan fortfarande användas under karakterisering.
