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Capítulos
- 00:05Título
- 00:34AFM Instrument Set-up and Calibration
- 02:47Quantitative Hardness Measurement Procedure
- 06:24Results: Calculation of the Projected Area of an AFM Indent on an Atomically Smooth Gold Thin-film Surface
- 07:29Conclusion
Tags
Keywords:
AFM IndentationNano HardnessGold Thin FilmNano MechanicsPlastic DeformationHigh Spatial ResolutionDiamond Coated CantileverFrequency SweepPhotodiode SensitivityNon-compliant Reference SurfaceForce SpectroscopyCalibrationSample HolderOscillation FrequencyOscillation AmplitudeOscillation Set Point
