/
/
Sub-Nanometer Auflösung Belichtung mit Amplituden-Modulation der Rasterkraftmikroskopie in Liquid
This content is Free Access.
Capítulos
- 00:05Título
- 00:59Equipment and Substrate Preparation
- 02:39Cantilever and Tip Preparation
- 03:22Set-up of AFM Cell and Cantilever Calibration
- 04:27Approach and Initial Check of the Sample
- 06:31High-resolution Imaging
- 08:09Results: Sub-nanometer Resolution Imaging of Soft and Stiff Samples
- 09:18Conclusion
Wir präsentieren ein Verfahren zum Erreichen einer Sub-Nanometer Auflösung Bilder mit Amplituden-Modulation (Tapping-Modus) Rasterkraftmikroskopie in Flüssigkeit. Das Verfahren ist auf kommerzielle Atomkraftmikroskope demonstriert. Wir erläutern die Gründe für unsere Entscheidungen von Parametern und schlagen Strategien zur Auflösung Optimierung.
