Journal
/
Engenharia
/
Sub-nanometer Resolution Imaging med Amplitude-modulasjon Atomic Force Microscopy i væske
JoVE Journal
Engenharia
This content is Free Access.
JoVE Journal Engenharia
Sub-nanometer Resolution Imaging with Amplitude-modulation Atomic Force Microscopy in Liquid

Sub-nanometer Resolution Imaging med Amplitude-modulasjon Atomic Force Microscopy i væske

DOI:
10.3791/54924-v

•

10:25 min

•

December 20, 2016

•

, , , , ,
1Physics Department,Durham University

Capítulos

  • 00:05Título
  • 00:59Equipment and Substrate Preparation
  • 02:39Cantilever and Tip Preparation
  • 03:22Set-up of AFM Cell and Cantilever Calibration
  • 04:27Approach and Initial Check of the Sample
  • 06:31High-resolution Imaging
  • 08:09Results: Sub-nanometer Resolution Imaging of Soft and Stiff Samples
  • 09:18Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

Vi presenterer en metode for å oppnå sub-nanometer oppløsning med amplitude-modulasjon (tappe modus) atomic force mikroskopi i væske. Metoden er vist på kommersielle atomkraftmikroskop. Vi forklare begrunnelsen bak våre valg av parametere og foreslå strategier for oppløsning optimalisering.

Tags

Sub-nanometer ResolutionAmplitude-modulation Atomic Force MicroscopyLiquidHigh Resolution ImagingCommercial AFMTapping ModeSample PreparationCleaningMica SubstrateEpoxy GlueAdhesive Tape

Article

Embed

ADICIONAR À PLAYLIST

Usage Statistics

Vídeos Relacionados

High-resolution, High-speed, Three-dimensional Video Imaging with Digital Fringe Projection Techniques

Atomic Force Mikroskopi av Red-Light Fotoreseptorer Bruke PeakForce Kvantitativ Nanomechanical Eiendoms Mapping

Gransker enkelt molekyl Adhesjon av Atomic Force spektroskopi

Dynamisk Pore-skala Reservoir-tilstand Imaging av Reaction i karbonater Bruke Synchrotron Fast Tomography

Lysindusert in situ transmisjonselektronmikroskopi for observasjon av interaksjonen mellom væske og myk materie

Samlokalisering av Kelvin Probe Force Microscopy med andre mikroskopier og spektroskopier: Utvalgte applikasjoner i korrosjonskarakterisering av legeringer

Optimalisering av magnetisk kraftmikroskopioppløsning og følsomhet for å visualisere magnetiske domener i nanoskala

Atomic Force Microscopy Cantilever-Based Nanoindentation: Mekaniske egenskapsmålinger på nanoskala i luft og væske

Active Probe Atomic Force Microscopy with Quattro-Parallel Cantilever Arrays for High-Throughput Large-Scale Sample Inspection

Utvikling av en bio-hybrid mygg Stinger-basert atomkraftmikroskopisonde

Read Article