/

/

स्थैतिक और स्कैनिंग मोड में न्यूट्रॉन-गामा विश्लेषण द्वारा मृदा कार्बन की माप

JoVE Journal
Engenharia

É necessária uma assinatura da JoVE para visualizar este conteúdo. Faça login ou comece sua avaliação gratuita.

JoVE Journal Engenharia

Measurements of Soil Carbon by Neutron-Gamma Analysis in Static and Scanning Modes

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

स्थैतिक और स्कैनिंग मोड में न्यूट्रॉन-गामा विश्लेषण द्वारा मृदा कार्बन की माप

DOI:

10.3791/56270-v

•

07:51 min

•

August 24, 2017

•

Galina Yakubova, Aleksandr Kavetskiy, Stephen A. Prior, H. Allen Torbert

¹National Soil Dynamics Laboratory,Agricultural Research Service, United States Department of Agriculture

Capítulos

00:05Título
00:53Inelastic Neutron Scattering (INS) System Preparation
02:34INS System Calibration
05:17Field Soil Measurements
06:08Results: Field Measurements of Carbon Content
07:00Conclusion

Summary

Tadução automática

यहां, हम एकल बिंदु मापन (स्थैतिक मोड) या फ़ील्ड औसत (स्कैनिंग मोड) के लिए न्यूट्रॉन-गामा तकनीक का उपयोग करके मिट्टी के कार्बन के सीटू माप में प्रोटोकॉल प्रस्तुत करते हैं. हम भी प्रणाली निर्माण और विस्तृत डेटा उपचार प्रक्रियाओं का वर्णन ।

Tags

Soil Carbon Neutron-gamma Analysis Static Mode Scanning Mode Inelastic Neutron Scattering Gamma Ray Analysis Soil Carbon Measurement Restricted Area Neutron Generator Power Level Data Acquisition Detector Calibration Caesium-137 Source Calibration Pits Sand-carbon Mixtures

Article

Embed

ADICIONAR À PLAYLIST

Usage Statistics

Vídeos Relacionados

3 डी कार्बन नैनोट्यूब Microstructures के निर्माण, densification, और प्रतिकृति मोल्डिंग

पतली फिल्मों में प्रसार का उपयोग पर्यावरण प्लूटोनियम का प्रजातीकरण और bioavailability माप

परमाणु प्रतिक्रिया विश्लेषण के साथ गहराई रूपरेखा के माध्यम से सतह और इंटरफ़ेस परतें और थोक माल में हाइड्रोजन की मात्रा सांद्रता

(SEM) एक्स-रे गणना टोमोग्राफी (सीटी) और प्रकाश माइक्रोस्कोपी (एलएम) स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी के साथ सहसंबद्ध के संयोजन के द्वारा एल ई डी की गहराई में विश्लेषण

एक स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप से अर्धचालक पदार्थों में विस्तारित दोष का व्यापक विशेषता

स्थानीय संपर्क से भंवर हेरफेर का विद्रूप अध्ययन स्कैन

ब्लास्ट फर्नेस लावा की दो-तरफा मूल्यसिथरीकरण: उपजी कैल्शियम कार्बोनेट और zeolitic भारी धातु Adsorbent के संश्लेषण

कार्बन नैनोट्यूब वन प्रेसिजन मिलिंग कम दबाव स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी का उपयोग

द्वारा Nanostructured yttria स्थिर-YSZ (zirconia) scaffolds के उच्च तापमान निर्माण<em> सीटू</em> कार्बन Templating xerogels

3 डी कार्बन माइक्रोइलेक्ट्रोमैकेनिकल सिस्टम्स (सी-एमईएमएस) का निर्माण

Read Article