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Corrosione dell'imaging nell'interfaccia Metal-Paint con spettrometria di massa ionica secondaria a tempo di volo
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Química
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Imaging Corrosion at the Metal-Paint Interface Using Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
DOI:

07:24 min

May 06, 2019

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Capítulos

  • 00:04Título
  • 00:55Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) Analysis of the Metal-Paint Corrosion Interface
  • 05:32Results: Comparison of Corroded and Non-Corroded Aluminum-Paint Interfaces
  • 06:16Conclusion

Summary

Tadução automática

La spettrometria di massa ionica secondaria a tempo di volo viene applicata per dimostrare la morfologia chimica di mappatura e corrosione all'interfaccia metallo-vernice di una lega di alluminio dopo essere stata esposta ad una soluzione salina rispetto ad un campione esposto all'aria.

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