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जांच प्रकार द्वितीय बैंड संरेखण में एक-आयाम वान डेर Waals Heterostructures प्रथम-प्रिंसिपल गणना का उपयोग
 
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जांच प्रकार द्वितीय बैंड संरेखण में एक-आयाम वान डेर Waals Heterostructures प्रथम-प्रिंसिपल गणना का उपयोग

Article DOI: 10.3791/60180-v • 13:56 min • October 12th, 2019
October 12th, 2019 •
1, 1, 1, 2
1College of Information Science and Engineering, Ocean University of China, 2Department of Physics, Southern University of Science and Technology

Capítulos

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वियना Ab initio सिमुलेशन पैकेज द्वारा प्रदर्शन की गणना नैनोस्केल सामग्री के आंतरिक इलेक्ट्रॉनिक गुणों की पहचान करने और संभावित पानी विभाजन photocatalists की भविष्यवाणी करने के लिए इस्तेमाल किया जा सकता है।

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रसायन विज्ञान अंक 152 एक आयामी वैन der Waals heterstructures प्रकार द्वितीय बैंड संरेखण नैनोरिबन नैनोट्यूब प्रथम सिद्धांत गणना संयोजकता बैंड अधिकतम चालन बैंड न्यूनतम
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