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ToF-SIMSおよびXPS分析用ナノ粒子の調製

JoVE Journal
Química

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Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis

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ToF-SIMSおよびXPS分析用ナノ粒子の調製

DOI:

10.3791/61758-v

•

06:24 min

•

September 13, 2020

•

Francesca Bennet, Anja Müller, Jörg Radnik, Yves Hachenberger, Harald Jungnickel, Peter Laux, Andreas Luch, Jutta Tentschert

¹Division of Surface Analysis and Interfacial Chemistry,Federal Institute for Material Research and Testing (BAM), ²Department of Chemical and Product Safety,German Federal Institute for Risk Assessment (BfR)

Capítulos

00:05Introduction
00:45Nanoparticle Suspension Preparation, Drop-Dry Deposition, and Spin Coating Deposition
02:24Nanoparticle Powder Deposition
03:15Nanoparticle Suspension Cryofixation
04:06Results: Representative Nanoparticle Preparation for Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Analysis
05:41Conclusion

Summary

Tadução automática

表面分析用のナノ粒子を調製するための多くの異なる手順(ドロップキャスティング、スピンコーティング、粉末からの堆積、およびcryofixation)が提示されています。各方法の課題、機会、応用例、特に様々な調製方法による表面特性の変化について議論する。

Tags

Nanoparticles Surface Analysis ToF-SIMS XPS Sample Preparation Suspension Drop Dry Method Spin Coating Powder Deposition UV Ozone Cleaner Vacuum Silicon Wafer O-ring Microscopy SEM

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